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激光掃描系統(tǒng)

激光掃描系統(tǒng)該儀器被設(shè)計用于工藝和材料的質(zhì)量監(jiān)控，例如單晶或多晶硅。多晶硅磚切割標準的自動輸出。能夠根據(jù)爐子的輸出質(zhì)量進行單獨的爐子監(jiān)控進行優(yōu)化和決定投資。MDPpro是多晶硅磚生產(chǎn)商以及爐子技術(shù)生產(chǎn)...

激光橢偏儀

激光橢偏儀SE 800 PV是分析結(jié)晶和多晶硅太陽能電池防反射膜的理想工具。可以測量單層薄膜(SiNx、SiO2、TiO2、Al2O3)和多層疊層膜(SiNX/SiO2、SiNx1/SiNx2、SiN...

ICP-RIE等離子刻蝕機

ICP-RIE等離子刻蝕機三螺旋平行板天線(PTSA)等離子源是SENTECH等離子體工藝設(shè)備的屬性。PTSA源能生成具有高離子密度和低離子能量的均勻等離子體。它具有高耦合效率和非常好的起輝性能，非常...

X射線探傷機

X射線探傷機公司制造X射線工業(yè)設(shè)備用于控制產(chǎn)品質(zhì)量，如應用于汽車、航空和食品等部門。此外，公司制造的X射線設(shè)備也應用于醫(yī)療和安全部門。每個產(chǎn)品在國內(nèi)設(shè)計制造，從結(jié)構(gòu)到特殊的圖像處理軟件都是使用現(xiàn)有的的...

掃描電子顯微鏡SEM

掃描電子顯微鏡SEMEVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結(jié)合在一起， 同時能夠吸引經(jīng)驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借...

掃描電子顯微鏡SEM

掃描電子顯微鏡SEM借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度。現(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時...